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瑞典Haglöf Vertex 5 園林測繪 樹高測定器
瑞典Hagl?f Vertex 5 園林測繪 樹高測定器，它主要用于在森林環境中進行高度、距離和角度的精確測量，即使在茂密的植被和灌木叢中也能正常工作。
型號： Vertex IV...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/22 9:43:22
對比
瑞典Haglöf測量斜距、水平距離、高度角和高度Vertex IV / MIL-STD-810E樹高測定器林業設計的精密測量儀器
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LEIMIS食品飲料石油乙醇用在線浸入式密度計
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型號： DM-250.1N...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/22 9:42:42
對比
加拿大adi在線密度計密度計DC-60
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加拿大ADI 油品品質 辛烷值/十六烷值分析儀
加拿大ADI 油品品質 辛烷值/十六烷值分析儀 AD-100/AD-101，該產品為便攜式油品分析儀，用于快速檢測汽油辛烷值、柴油十六烷值等參數。適用于石油質檢...
型號： AD-100/AD...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/22 9:30:37
對比
加拿大ADI/AD-100/AD-101所有種類的汽油汽油/柴油分析儀器AD辛烷值分析儀油品品質分析儀
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AVAL DATA近紅外相機 食品異物檢測工業分選
AVAL DATA近紅外相機 食品異物檢測工業分選半導體檢測用ABA-052VIR-GE / ABA-052VIR-CXP，該產品是5.2MP工業級近紅外相機，...
型號： ABA-052VI...
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面議更新時間：2026/6/18 11:03:26
對比
日本AVAL DATA工業分選/半導體檢測/食品異物檢測C-Mount / Sony InGaAsABA-052VIR-CXP / ABA-052VIR-GE工業級近紅外相機
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半導體用AVAL DATA高光譜相機 識別塑料分類
半導體用AVAL DATA高光譜相機 識別塑料分類 AHS-003VIR / Sony InGaAs ，這是一款近紅外高光譜相機，主要用于工業自動分揀（如塑料分...
型號： AHS-003VI...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/18 11:02:23
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日本AVAL DATA塑料分類檢測450nm-1700nm (光譜范圍)推掃式相機AHS-003VIR
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AVAL DATA高光譜相機 食品成分分析異物檢測
AVAL DATA高光譜相機 食品成分分析異物檢測 AHS-U20MIR，這是一款近紅外高光譜相機，可對物體進行非接觸、非破壞性的成分分析與識別。它通過捕捉物質...
型號： AHS-U20MI...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/18 11:01:40
對比
日本AVAL DATAAHS-U20MIR混凝土/生物成像/包裝薄膜檢查近紅外高光譜相機非接觸式成分分析
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AVAL DATA多光譜SWIR相機 塑料分選異物檢測
AVAL DATA多光譜SWIR相機 塑料分選異物檢測 AMS-013VIRLF2-GE/CL/CXP，該相機利用近紅外多光譜技術，高精度檢測微小差異，適用于工...
型號： AMS-013VI...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/18 10:21:29
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日本Aval Data AMS-013VIRLF2塑料分選/異物檢測1760fps高速4波段近紅外成像GigE / CXP / CL、全局快門
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haglof Vertex 5超聲波樹高測定器Vertex IV
haglof Vertex 5超聲波樹高測定器Vertex IV它主要用于在森林環境中進行高度、距離和角度的精確測量，即使在茂密的植被和灌木叢中也能正常工作。
型號：
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面議更新時間：2026/6/18 9:12:17
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haglof瑞典Haglöf Vertex 5距離計·樹高測定器廣角指示器森林調查坡地雜草障礙物通用
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山田光學 yamada 高亮度鹵素落射照明裝置
山田光學 yamada 高亮度鹵素落射照明裝置 YP-150I YP-150ID YP-250Iyamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度...
型號： YP-150I Y...
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面議更新時間：2026/6/18 9:06:41
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山田光學YAMADA KOGAKU晶圓表面宏觀觀察燈高亮度鹵素燈HPS-150 YP-150ID
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日本山田光學yamada kogaku LED檢查燈
日本山田光學yamada kogaku LED檢查燈，YP-250IL / 照度40萬Lx，該設備專為精密制造領域的宏觀觀察而設計，核心優勢在于其非常高的光照強...
型號： YP-250IL ...
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面議更新時間：2026/6/17 9:34:03
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照度40萬Lx高亮度LED照明裝置日本山田光學YP-250IL宏觀觀察檢查燈于液晶基板缺陷檢測
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YAMADA高亮度LED光源裝置 半導體晶圓檢測用
YAMADA高亮度LED光源裝置 半導體晶圓檢測用YP-250IL / 鹵素YP-250I ，該產品用于檢測晶圓及基板表面的劃痕、異物等缺陷。主要適用于半導體、...
型號： YP-250IL ...
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面議更新時間：2026/6/17 9:22:10
對比
YAMADA山田光學yamada kogakuLED光源YP-250IL宏觀觀察照明半導體晶圓檢測用
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Luna在線傳感器頭TeraMetrix T-Gauge 測厚
Luna在線傳感器頭TeraMetrix T-Gauge 測厚 HXC50yn，該傳感器用于工業在線測量厚度、克重及多層結構，適用于 roofing、航空航天、...
型號： HXC50yn
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面議更新時間：2026/6/15 16:33:09
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lunainc / TeraMetrix工業級在線測厚儀的傳感器探頭泡沫密度、油漆厚度工業過程控制在線傳感器頭T-Gauge® HXC50yn
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Luna有源光纖偏振控制器General Photonics
Luna有源光纖偏振控制器General Photonics PCD-M02-3X-7-FC/PC，PCD-M02是一款集成微型壓電驅動卡的動態偏振控制器，用于...
型號： PCD-M02-3...
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面議更新時間：2026/6/15 14:45:27
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美國General Photonicslunainc動態偏振控制器有源偏振控制模塊PCD-M02/MPC
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Luna高通道數分布式光纖傳感分析儀Novoptel
Luna高通道數分布式光纖傳感分析儀Novoptel ODiSI 6001/ODiSI 6108，該設備依托分布式光纖技術，可全域測量構件應變與溫度，支持三維可...
型號： ODiSI 600...
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/15 12:09:01
對比
Luna / Novoptel高分辨率分布式光纖傳感分析儀結構健康監測光學分布式傳感器詢問器ODISI 6000 系列
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Luna干涉儀MICRON OPTICS FFP-I picoWave FFP-I1310-040M06502.5063，該產品為光纖法布里-珀羅的干涉儀，主要...
型號： FFP-I1310...
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面議更新時間：2026/6/15 11:28:40
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美國 Luna/MICRON OPTICSFabry-Perot光纖法布里干涉儀光譜切片源、ITU 濾波用FFP-I/picoWave
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Gerber 小型零部件分選機 分離設備篩分儀器DS series DS 120 / 200 / 300 / 450?厚度分選器DS 120 / 200 / 3...
型號： DS 120 / ...
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面議更新時間：2026/6/15 10:22:45
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零件厚度分選機模塊化分選金屬/陶瓷/寶石零件 厚度分級儀RenéGerberAGgerber-maschinen
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EC FRONTIER批量電解合成裝置 電化學工作站 ECSTATSYN-8000探討該設備如何通過簡化的操作界面（觸摸屏、預設程序）降低電化學合成的技術門檻。
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面議更新時間：2026/6/15 10:20:56
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一體化電化學儀日本EC FRONTIER批次式有機電解合成裝置電化學工作站
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型號：
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參考價：
面議更新時間：2026/6/15 10:10:12
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三洋 SANYO TESTING MACHINESTest Hammer 紙卷硬度試驗機標準型LS/記錄型LSR日本紙卷硬度計
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型號：
所在地：深圳市
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面議更新時間：2026/6/15 10:08:32
對比
三洋 SANYO TESTING MACHINESTest Hammer 紙卷硬度試驗機標準型LS/記錄型LSR日本衛生紙面巾紙硬度檢測儀
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KATO TECH拉伸剪切試驗機織物手感分析KES-FB1-A/AW / KES，這是一款用于紡織、造紙等行業，精確測定織物、紙張等材料拉伸與剪切性能，以評估其...
型號： KES-FB1-A...
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面議更新時間：2026/6/13 17:43:35
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keskato日本拉伸剪切試驗機KES-FB1-A/AW
